手持式x熒光光譜儀 產(chǎn)品特點(diǎn) 1、輕小、便攜 2、完全無(wú)損 3、用戶(hù)界面簡(jiǎn)捷、明了 4、中文操作界面（12種以上語(yǔ)言供選） 5、檢測(cè)速度快 6、分析精度高 7、存儲(chǔ)空間大 8、數(shù)據(jù)傳輸方便，快捷 9、減震、防水、抗壓儀器箱
手持式光譜儀用于的定量定性分析：
手持式光譜儀是一種功能強(qiáng)大,并且可擴(kuò)展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號(hào)鑒別和分選.它包括激發(fā)和配有可充電電池的光譜儀主機(jī)兩部分.它工作時(shí),既不需要?dú)鍤?也不需要放射源。 1、原理：手持式光譜儀屬于熒光光譜,實(shí)驗(yàn)室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發(fā)源不同 2、精度：手持式光譜儀主要用于定性分析,實(shí)驗(yàn)室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍：手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無(wú)法激發(fā)的基體,例如鋯基體；實(shí)驗(yàn)室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類(lèi)比手持式的要多。

技術(shù)參數(shù)： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發(fā)源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測(cè)器： SI-PIN檢測(cè)器 操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng)：Peltier 半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 　濕度：0～95%

手持式分析儀 探測(cè)器：13mm2 電致冷Si-PIN探測(cè)器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測(cè)時(shí)間：10-200秒（可手持式或座立式測(cè)試） 檢測(cè)對(duì)象：固體、液體、粉末 檢測(cè)范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時(shí)分析元素：多至26個(gè)元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非授權(quán)人員無(wú)法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯，可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行 保存打印，配備海量存儲(chǔ)卡 電 源： 兩塊鋰電池滿(mǎn)電可連續(xù)工作8小時(shí)

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng),可以知道元素的種類(lèi),這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特息。
手持式光譜分析儀是金屬制造業(yè)的質(zhì)量檢測(cè)*手段，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程的原材料管控，保證工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量。所能測(cè)試的樣品形狀包括削屑、刨花、棒、線、細(xì)小的工件和部件。手持式合金分析儀每天檢測(cè)上千個(gè)金屬合金樣 品。即使是初級(jí)檢驗(yàn)員也能很有把握地將大量的 樣 品 測(cè) 出 完 整 而 準(zhǔn)確 的 結(jié) 果 ，比常規(guī)的化學(xué)測(cè)試手段和方便。手持式合金光譜分析儀測(cè)試時(shí)間是1~2秒,如果再延 長(zhǎng)幾秒鐘的測(cè)試時(shí)間,則可得出更準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的測(cè) 試結(jié)果。無(wú)需制備樣品,從金屬細(xì)絲到成品焊點(diǎn),螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持XRF合金城分析儀檢測(cè)。
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